在納米材料分析和研究中，通常是納米級(jí)（1至100nm）的超細(xì)顆粒。這些材料具有納米級(jí)的粒徑，因?yàn)樗鼈兙哂休^小的尺寸效應(yīng)，量子尺寸效應(yīng)，表面效應(yīng)和宏觀量子隧穿效應(yīng)，因此它們?cè)诔Ｒ?guī)材料，催化劑，非線性光學(xué)和磁性材料中未發(fā)現(xiàn)太多特性。因此，納米材料的粒度分析已經(jīng)成為納米材料研究的重要方面。
激光粒度分析儀是用于固體粒度物理測(cè)量和分布的工具，粒度測(cè)量可以達(dá)到20nm和1nm，這在粒度分析中起著重要作用。同時(shí)由于設(shè)計(jì)了針對(duì)性的分析方法和工具，因此分析的原理和方法不同，因此在分析納米材料時(shí)選擇合適的分析方法和分析工具非常重要。
那么有哪些原因會(huì)造成激光粒度分析儀的測(cè)試數(shù)據(jù)異常呢？
1、環(huán)境異常：使用環(huán)境應(yīng)該滿足以下條件，一是室溫在10℃－30℃之間，并且介質(zhì)溫度要與室溫相同或相近，若介質(zhì)與室溫溫相差過(guò)大會(huì)導(dǎo)致樣品池結(jié)霧而影響測(cè)試結(jié)果。二是實(shí)驗(yàn)臺(tái)要穩(wěn)固，周?chē)鸁o(wú)振動(dòng)源。振動(dòng)會(huì)使儀器測(cè)試過(guò)程中光路發(fā)生變化，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不穩(wěn)。三是電源電壓要穩(wěn)定且有良好的接地，電壓不穩(wěn)會(huì)影響儀器內(nèi)部電路運(yùn)行的可靠性和光源的穩(wěn)定性，從而使信號(hào)不穩(wěn)或錯(cuò)誤，導(dǎo)致結(jié)果異常。
2、樣品制備原因：一是取樣不具有代表性。二是所用的介質(zhì)不合適。三是分散劑的種類(lèi)和用量不正確。四是超聲分散時(shí)間和強(qiáng)度不一致等。解決方法是從車(chē)間取樣時(shí)要盡量從料流中取樣而不要在堆積狀態(tài)下取樣，如果不得不在堆積狀態(tài)下取樣，必須進(jìn)行多點(diǎn)取樣（至少4點(diǎn)），即從不同位置、不同深度取樣后混合到一起。
3、折射率發(fā)生改變：該儀器采用Mie散射理論，選擇正確的折射率直接決定了測(cè)試結(jié)果的性，正確的折射率可以通過(guò)系統(tǒng)或測(cè)量來(lái)得到。折射率發(fā)生變化的原因是測(cè)試不同的樣品時(shí)忘記把上一個(gè)樣品的折射率修改成現(xiàn)在樣品的折射率，解決辦法是嚴(yán)格按操作規(guī)范進(jìn)行操作，認(rèn)真細(xì)致。
4、保養(yǎng)維護(hù)不當(dāng)：該儀器是精密儀器，日常使用要按照操作規(guī)程使用，日常保養(yǎng)和維護(hù)不當(dāng)會(huì)產(chǎn)生樣品池污染、樣品池劃傷、透鏡污染、管路臟、光電探測(cè)器損壞、使用腐蝕性介質(zhì)測(cè)試導(dǎo)致循環(huán)系統(tǒng)損壞等，這些原因都會(huì)導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果異常。解決方法是定期清洗樣品池和管路，及時(shí)更換劃傷的樣品池、不在非耐腐蝕循環(huán)泵中使用腐蝕性介質(zhì)、不用汽油擦儀器表面、不隨便打開(kāi)儀器上蓋、不使雜物掉到循環(huán)池中等。
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