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2019年11月9日至10日，中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)顆粒測(cè)試專委會(huì)主辦的第十二屆顆粒測(cè)試學(xué)術(shù)會(huì)議在杭州西子湖畔的贊成賓館隆重舉行。此次會(huì)議匯集了來(lái)自各地百余名顆粒學(xué)界的、顆粒表征儀器制造與銷售企業(yè)的代表以及顆粒表征儀器使用單位的代表，展示與探討顆粒表征科學(xué)與技術(shù)的新進(jìn)展、新產(chǎn)品和新應(yīng)用。會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)氣氛熱烈，座無(wú)虛席。

    顆粒界的資深學(xué)者和企業(yè)家，珠海真理光學(xué)儀器有限公司董事長(zhǎng)、天津大學(xué)兼職教授張福根博士應(yīng)邀出席，并做了學(xué)術(shù)報(bào)告。題目是：“粉體（）大顆粒的科學(xué)表征方法探討”。報(bào)告從邏輯上論證了真實(shí)的大粒本質(zhì)上是不可測(cè)的。提出了顆粒表征科學(xué)的新名詞：視場(chǎng)內(nèi)大粒（Biggest Particle in Viewing Field，縮寫為“BPVF”），意指進(jìn)入粒度測(cè)量?jī)x器有效傳感范圍的顆粒中的大粒。指出當(dāng)前話語(yǔ)體系中所謂的大粒，就是指視場(chǎng)內(nèi)大粒（BPVF）。目前市面行的能測(cè)BPVF的粒度儀包括：電阻法顆粒計(jì)數(shù)器、顆粒圖像處理儀、沉降法粒度儀以及其他的計(jì)數(shù)型粒度儀。張博士在報(bào)告論證：激光粒度儀不能測(cè)BPVF，當(dāng)然更不能表征被測(cè)樣品真實(shí)的大粒。他特別提醒，如果用激光粒度測(cè)試報(bào)告中的D100（或dmax, d(1.0, v)等等）作為大粒，有可能給用戶帶來(lái)嚴(yán)重后果。在報(bào)告的后，張博士提出一個(gè)用以表征粉體樣品中大粒含量的新單位：PPT（>dc）, 意指每一萬(wàn)億（1012 ）個(gè)顆粒中所包含的粒徑大于某特征粒徑dc的顆粒個(gè)數(shù)，同時(shí)提出了原理性的測(cè)量方法。在提問環(huán)節(jié)，鄭州磨料磨具磨削研究所測(cè)試中心的原工程師、鄭州建斌電子科技有限公司總經(jīng)理周波激動(dòng)地表示：關(guān)于大粒的定義以及激光粒度儀在測(cè)量大粒上的局限性在磨料磨具行業(yè)一致存在疑惑，張博士能從理論的角度闡釋得如此清晰，對(duì)磨料行業(yè)的粒度測(cè)試應(yīng)用具有非常實(shí)際的指導(dǎo)意義，希望張博士能給磨料磨具行業(yè)做專題講座。。

    在本次會(huì)議上，張博士指導(dǎo)的天津大學(xué)碩士研究生張晨雨做了題為“利用散射光的偏振差異測(cè)量顆粒折射率”的學(xué)術(shù)報(bào)告。該課題旨在解決利用激光粒度儀測(cè)量粒度分布時(shí)需要輸入被測(cè)樣品的折射率，而折射率的數(shù)值又難以獲得的問題。該報(bào)告提出了一種利用激光粒度儀在粒度測(cè)量過程中獲得的被測(cè)樣品的散射光信號(hào)分析計(jì)算樣品折射率的新方法，理論嚴(yán)謹(jǐn)、實(shí)驗(yàn)可靠。該報(bào)告榮獲大會(huì)論文獎(jiǎng)。

    真理光學(xué)的經(jīng)營(yíng)理念是“科學(xué)態(tài)度，工匠精神，成就顆粒儀器”。在本次會(huì)議報(bào)告上的兩個(gè)兼具科學(xué)與技術(shù)價(jià)值的兩項(xiàng)研究都是在真理光學(xué)完成的，展現(xiàn)了真理光學(xué)對(duì)顆粒表征科學(xué)的不懈追求。

以下是來(lái)自會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)的部分圖片分享：

上圖為張福根博士在會(huì)上做報(bào)告

 上圖為大會(huì)論文者（右三是天津大學(xué)學(xué)生張晨雨）

上圖是會(huì)議代表大合影

 以上為本次會(huì)議全部分享。了解更多顆粒測(cè)試資訊，可關(guān)注【真理光學(xué)】公眾號(hào)。